「原子間力顕微鏡」の版間の差分
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[[Image:AFM fr.jpg|right|300px|thumb|'''原子間力顕微鏡'''の原理（光てこ方式）。中央の台に試料を載る。その上に描かれているのがカンチレバーである。台をX-Y軸方向に移動しながらカンチレバーにレーザー光をあて、反射光の変移に応じて左側のフィードバック用回路を用いて台をZ軸方向に上下させる。このX-Y-Z方向の動きが観察像となる（右下の矢印）]]
[[ファイル:Compact disk data layer 2d 3d.PNG|サムネイル|原子間力顕微鏡により得られた[[コンパクトディスク|CD]]表面の画像]]
'''原子間力顕微鏡'''（げんしかんりょくけんびきょう、{{lang-en-short|atomic force microscope}}、 {{en|AFM}}）<ref>G. Binnig, C. F. Quate, & Ch. Gerber, "Atomic Force Microscope", ''Phys. Rev. Lett.'' '''56''', 930–933 (1986){{doi|10.1103/PhysRevLett.56.930}}</ref>は、[[走査型プローブ顕微鏡]]（SPM）の一種
[[分子間力|原子間力]]はあらゆる物質の間に働くため{{要出典範囲|容易に試料を観察することができる|date=2020年10月}}ため、
他の[[走査型プローブ顕微鏡]]と同様に空間分解能は[[探針]]の先端半径（nm程度）に依存し、現在では、原子レベルの分解能が実現されている。
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