ノート:冷却CCDカメラ

2008年1月7日現在の本文の書き出し部 「CCDを用いた一般的なデジタルカメラなどで長時間・高感度の撮像を行う場合、撮像素子のPN接合部でゼーベック効果により電荷を生じる。この際に熱雑音（熱ノイズ）が発生し、画像のS/N比が低下してしまう。」 　この文章（以下「原文」という）は、CCD素子での暗電流発生の説明としては疑問があります。

次に下記参考文献の p.14, 2-7 暗電流の項から引用します。

「CCDでの暗電流の主な発生原因は、以下の３点です。 （1）空乏化していない領域での熱励起とその拡散 （2）空乏層内での熱励起 （3）界面での表面準位による熱励起 これらのうちでは（3）が最も支配的です。」

熱雑音の発生原因として、原文に言う「ゼーベック効果」と関係する現象はあるのでしょうか。 （3）の界面とは、空気に触れる表面のことで、PN接合部とは無関係でしょう。

したがって、原文の該当個所を次のように差し替えることを提案いたします。

「CCDカメラでは、光入力のない状態でも信号出力があり、これを暗電流と言う。目的とする画像取得にとっては、雑音（ノイズ）の原因の一つとなり、特に天体観測など低照度長時間露出の場合に問題となる。これは、温度が高いほど大きな影響があるため熱雑音とも呼ばれる。 　その原因としては、主に次の３点が考えられる。 （1）空乏化していない領域での熱励起とその拡散 （2）空乏層内での熱励起 （3）界面での表面準位による熱励起 これらのうちで、最も支配的なのは（3）である。」

合わせて、下記を参考文献として表示することを提案します。

参考文献 浜松ホトニクス　技術資料　SD-25「FFT-CCDエリアイメージセンサの特性と使い方」 http://jp.hamamatsu.com/resources/products/ssd/pdf/tech/fft_ccd_kmpd9002j06.pdf --o2 2008年1月12日 (土) 00:43 (UTC)Osm2