「走査型透過電子顕微鏡」の版間の差分
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環状の検出器で明視野を検出する方法が、'''環状明視野法'''（Annular Bright Field, '''ABF'''）である。
高角度の環状暗視野を検出する方法が、'''高角度環状暗視野法'''(High-Angle Annular Dark Field, '''HAADF''')である。物質によって高角度に散乱される電子は主に、熱散漫散乱によるものであり、環状検出器では干渉性の低い散乱電子が支配的に検出される<ref>{{Cite journal|last=Nellist|first=P.D.|last2=Pennycook|first2=S.J.|date=1999-06|title=Incoherent imaging using dynamically scattered coherent electrons|url=https://doi.org/10.1016/S0304-3991(99)00017-0|journal=Ultramicroscopy|volume=78|issue=1-4|pages=111–124|doi=10.1016/s0304-3991(99)00017-0|issn=0304-3991}}</ref>。したがって、HAADF-STEM像のコントラストは主に、試料の厚さと構成原子の原子番号 (Z)に依存する。そのため、HAADF-STEM像はZコントラスト像とも呼ばれる。
== 元素分析・状態分析 ==
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{{Science-stub}}
== 参考文献 ==
# P.D. Nellist and S.J. Pennycook, "[[doi:10.1016/S0304-3991(99)00017-0|Incoherent imaging using dynamically scattered coherent electrons]]", ''Ultramicroscopy'', '''78''' (1999) pp. 111-124.
{{デフォルトソート:そうさかたとうかかたてんしけんひきよう}}
[[category:電子顕微鏡]]
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