「電子回折」の版間の差分
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=== 実用上の観点 ===
[[ファイル:Simple-TEM-beam-path.jpg|thumb|right|図1. TEMにおける電子ビームの経路の概略図]]右の図1は、TEMにおける並列電子ビームの経路の概略図で、試料にあたってから蛍光スクリーンに映し出されるまでを描いている。試料に照射された電子ビームは試料を透過する際に構成元素の持つ静電ポテンシャルによって散乱
試料を電子ビームに対して傾けると、結晶のいくつかの向きの回折パターンが得られる。そうすることで、結晶の[[逆格子ベクトル|逆格子]]を3次元にマッピングすることができる。体系的な回折点の不在を調べることで、[[ブラベー格子]]を見分けたり、結晶構造内の[[螺旋軸]]や[[映進面]]の存在を特定できる。[[ファイル:DifraccionElectronesMET.jpg|thumb|right|図2: TEMの並列電子ビームによって得られる典型的な電子回折パターン]]
=== 制限 ===
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