「原子間力顕微鏡」の版間の差分

[[Image:AFM fr.jpg|right|300px|thumb|'''原子間力顕微鏡'''の原理（光てこ方式）。中央の台に試料を載る。その上に描かれているのがカンチレバーである。台をX-Y軸方向に移動しながらカンチレバーにレーザー光をあて、反射光の変移に応じて左側のフィードバック用回路を用いて台をZ軸方向に上下させる。このX-Y-Z方向の動きが観察像となる（右下の矢印）]]

'''原子間力顕微鏡'''（げんしかんりょくけんびきょう、{{lang-en-short|atomic force microscope}}、 {{en|AFM}}）<ref>G. Binnig, C. F. Quate, & Ch. Gerber, "Atomic Force Microscope", ''Phys. Rev. Lett.'' '''56''', 930–933 (1986){{doi|10.1103/PhysRevLett.56.930}}</ref>は、[[走査型プローブ顕微鏡]]（SPM）の一種。その名のとおり、試料と探針の[[原子]]間にはたらく[[力 (物理学)|力]]を検出して画像を得る。